探針冷熱臺(tái)專為樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)，用于表征材料電學(xué)特性隨溫度的變化規(guī)律。該設(shè)備在光學(xué)冷熱臺(tái)基礎(chǔ)上，集成了電學(xué)模塊（包含探針、位移機(jī)構(gòu)及電學(xué)接口）。通過移動(dòng)探針，可實(shí)現(xiàn)針尖與樣品表面任意區(qū)域的精準(zhǔn)接觸。電信號(hào)經(jīng)由探針、信號(hào)線、接口等，傳輸至外部測(cè)量?jī)x器（如源表、數(shù)字萬用表等），獲取相關(guān)電學(xué)數(shù)據(jù)，進(jìn)而分析材料在不同溫度下的電學(xué)特性。

探針冷熱臺(tái)根據(jù)探針座的不同 ，可分為內(nèi)部調(diào)節(jié)探針臺(tái) 、外部調(diào)節(jié)探針臺(tái)、電控調(diào)節(jié)探針臺(tái)等。

本系列產(chǎn)品具備4K至1700℃的超寬范圍精確控溫能力。依據(jù)目標(biāo)溫度及應(yīng)用特點(diǎn)，集成包括：液氦制冷、液氮制冷、熱電制冷、電阻加熱、紅外加熱、激光加熱等在內(nèi)的多種前沿溫控解決方案，為復(fù)雜變溫實(shí)驗(yàn)提供強(qiáng)大支持。

同時(shí)，提供多語言SDK（如Labview、C#等），賦能客戶實(shí)現(xiàn)高效定制化集成。

果果儀器ECHC400V-EC溫度范圍-190℃~400℃，采用電控探針座，可在實(shí)驗(yàn)過程中通過電動(dòng)控制探針位置，位移精度達(dá)5nm。

電控調(diào)節(jié)探針臺(tái)ECHC400V-EC特點(diǎn)：

• • 溫度范圍：-190℃~400℃

• • 納米級(jí)控制精度探針

• • 電動(dòng)控制

• • 結(jié)構(gòu)緊湊 

• • 適用真空環(huán)境

• • 高精度控溫

電控調(diào)節(jié)探針臺(tái)ECHC400V-EC參數(shù)：